Описание
Одинарная сторона полировка одинарный кристалл кремния
Технические характеристики:
Один кристалл,Однобоковая полировка, 8 дюймов
Материал:
Высокая чистота кремния Си один кристалл подложка. Н/п опционально.
Использует:
1. pvd/CVD покрытие подложка
2. используется в качестве XRD (x ray diffraction analysis), sem (сканирующий электронный микроскоп), AFM (микроскоп атомной силы), ftir инфракрасный, флюоресценционная спектроскопия и другие аналитические образцы
3. synchrotron излучатель Экспериментальный образец носителя
4. Подложка для молекулярного пучка
5. Процесс полупроводниковой литографии и т. д.
Характеристики
- Материалы для самостоятельного изготовления
- Металлообработка