Описание
| 0,5x05 мм SiO2 атомная сила микроскоп/стилус profiler калибровки стандарт. Калибровочная сетка имеет 3 различных и разделенных области. 6μm, 10 мкм и 20μm. Каждая область состоит из линий, решеток и конструкций колонн. Шаг высотой 175нм. Мы являемсяГотовоДоставка более 200 штук. |
Характеристики
- Бренд
- OPTOSENSE
- Equipment/Component Type
- SiO2 Wafer